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Graticules Eyepiece Reticles目鏡刻度線(垂直水平)，利用微微動載物臺之移動，配全目鏡之十字座標線，作長度量測。
Graticules Eyepiece Reticles目鏡刻度線(十字線)，利用微微動載物臺之移動，配全目鏡之十字座標線，作長度量測。
Graticules Walton Beckett，利用微微動載物臺之移動，配全目鏡之十字座標線，作長度量測。
Graticules Stage Micrometers測微尺(透射光)，高分辨率校準產品，用于校準顯微鏡、成像系統、坐標測量設備和計量儀器。
Graticules Stage Micrometers測微尺(反射光)，高分辨率校準產品，用于校準顯微鏡、成像系統、坐標測量設備和計量儀器。
Graticules Stage Micrometers測微尺(雙刻度)，高分辨率校準產品，用于校準顯微鏡、成像系統、坐標測量設備和計量儀器。
Graticules Scale校準刻度，高分辨率校準產品，用于校準顯微鏡、成像系統、坐標測量設備和計量儀器。
Graticules Calibration Grid校準網格，高分辨率校準產品，用于校準顯微鏡、成像系統、坐標測量設備和計量儀器。
Graticules Calibration Slide硬度計校準載玻片，高分辨率校準產品，用于校準顯微鏡、成像系統、坐標測量設備和計量儀器。
Graticules Counting Grid計數網格，高分辨率校準產品，用于校準顯微鏡、成像系統、坐標測量設備和計量儀器。
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